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首頁-產(chǎn)品系統(tǒng)--分析儀-GW-4040XRF巖屑元素分析儀
                    
產(chǎn)品型號:GW-4040
簡要描述:GW-4040型XRF巖屑元素分析儀是利用初級X射線光子或其他微觀離子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究的方法。將X射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井是目前巖屑分析中速的技術(shù),這項技術(shù)的獨到之處在于:能過巖屑化學(xué)元素組合特征的分析來識別巖性,再通過巖性的組合特征分析來判斷層位.因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。

廠家實力
Manufacturer Strength
有效保修
Valid Warranty
質(zhì)量保障
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詳細(xì)介紹

測量內(nèi)容:Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等
使用用途:油氣開采過程中的巖屑錄井檢測
| 分析元素 | 
 Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等  | 
| 探測下限 | 
 Al、Si、P、S、Ca:0.01% Ti、V、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn:0.001% 
  | 
| 分析范圍 | 0.0001%-99% | 
能量范圍  |   ≤±1%F.S  | 
| 穩(wěn)定性 | ≤±1%F.S | 
| 輸出信號 | 
 RS-232&USB數(shù)字輸出  | 
| 配件 | +筆記本電腦+壓片機  | 
| 外殼尺寸 | 355*250*380(長*寬*高)  | 
| 重量 | 36Kg  | 
 
*具體量程可能會有細(xì)微偏差。
*工作在溫度25℃和1013mbar測試數(shù)據(jù)。
                                                                                            
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